--半導體應用介紹--

主題:Mapping  

提案①:以體積小及光點細的雷射感測器檢測

放大器內藏 超小型雷射感測器EX-L系列

EX-L200

 

光點小高精度 設置簡單並且調整容易

採用定制的專用IC集成電路和光學設計,並充分利用雷射獨有的優異方向性和視覺辨認性,以超小型的體積實現了高精度檢測。

EX-L200

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提案②:以業界最小雷射感測器檢測頭 檢測晶圓盒中的晶片傾斜

放大器分離型 數位雷射感測器 LS-500+LS-H102

LS-500系列

放大器搭配檢測頭LS-H102進行晶片傾斜的檢測

LS-H201

 

搭配數位光纖感測器LS-500使用

 

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提案③:於手臂上、使用開口角度小且光束狹窄光纖進行檢測

光纖感測器 鏡面反射型光纖FR-KZ22E

光纖產品資訊連結

R2耐繞曲,超小型極薄 厚度僅2mm 抗機械手臂彎曲能力強。

可放在手臂上逐一檢查

FR-KZ22E介紹

可搭配數位光纖感測器FX-500系列使用FX-500介紹

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